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BeNano 180 Zeta納米粒度及Zeta電位分析儀是 BeNano 180+BeNano Zeta 的二合一光學(xué)檢測系統(tǒng)。

BeNano 180 Zeta Pro 納米粒度及Zeta電位分析儀是 BeNano 90+BeNano 180+BeNano Zeta 三合一的頂級光學(xué)檢測系統(tǒng)。

BeNano 180 Zeta納米粒度及Zeta電位分析儀是 BeNano 180+BeNano Zeta 的二合一光學(xué)檢測系統(tǒng)。

Zeta電位儀廠家供應(yīng)的BeNano 90 Zeta 納米粒度及Zeta電位分析儀是 BeNano 90 + BeNano Zeta 二合一的光學(xué)檢測系統(tǒng)。

BeNano90納米粒度分析儀是基于動態(tài)光散射原理，樣品分散在樣品池中，通過激光照射到樣品上，光電檢測器在 90°角檢測樣品顆粒布朗運動造成的散射光強隨時間的波動，再通過相關(guān)器進行自相關(guān)運算得出樣品的自相關(guān)曲線，結(jié)合數(shù)學(xué)方法得到顆粒的擴散系數(shù)，進一步利用斯托克斯 - 愛因斯坦方程得到樣品的粒度分布結(jié)果。

BeNano 180 納米粒度分析儀是丹東百特儀器公司開發(fā)的采用背向散射技術(shù)用于檢測納米顆粒粒度及其分布的光學(xué)檢測系統(tǒng)。